Вебинары ZEISS по микроскопии высокого разрешения

За последние два года эксперты компании ZEISS провели серию вебинаров, посвященных возможностям современных световых, электронных и атомно-силовых микроскопов. Записи всех вебинаров собраны на сайте ООО «Карл Цейсс». Здесь же можно задать возникшие вопросы специалистам, а с представленным в материалах оборудованием ознакомиться в каталоге компании ZEISS Russia & CIS.

Световая микроскопия
«Автоматизация измерений»

Из видеоматериалов можно узнать, как автоматизация измерений поможет вашей работе, а также о том, как улучшит результаты цитологических исследований инструмент «Область Интереса», входящий в комплекс программного обеспечения ZEISS ZEN.

«Машинное обучение и анализ изображений»

Онлайн-лекция о том, как машинное обучение поможет быстро и качественно анализировать полученные изображения. Также в материале — рассказ обо всех преимуществах использования программного обеспечения ZEISS ZEN в решении научно-исследовательских и практических задач.

«Оптическая микроскопия в материаловедении»

Видеоматериал знакомит с возможностями современных оптических микроскопов ZEISS и наглядно демонстрирует, как именно оборудование помогает проводить исследования в сфере материаловедения и геологии.

Сканирующая и двухлучевая электронная микроскопия
«Двухлучевая электронная микроскопия в металловедении»

Вебинар о двухлучевой электронной микроскопии высокого разрешения на оборудовании ZEISS — о том, как она поможет в визуализации и изучении микроструктуры и свойств различных металлов и сплавов. В онлайн-лекции подробно рассмотрены преимущества методики фокусированного ионного пучка (FIB) и возможности использования аналитической приставки EBSD.

«Сканирующая электронная микроскопия в металловедении»

Из видеоматериала можно узнать, как сканирующие электронные микроскопы ZEISS помогают оптимизировать исследования в области гранулометрии, металлографии и фрактографии и при морфологическом анализе различных объектов.

Атомно-силовая микроскопия
«Атомно-силовые микроскопы Bruker»

Онлайн-лекция о новых возможностях, которые предоставляет оборудование компании Bruker для исследования поверхностей с высоким разрешением. В материале представлен подробный рассказ о разнообразии режимов атомно-силовых микроскопов производителя. В их число входят такие современные и высокоточные методики, как электрические измерения на наноуровне, спектроскопия пьезоэлектрического отклика и микроскопия микроволнового импеданса.

«Зонды Bruker для атомно-силовой микроскопии»

Вебинар поможет ознакомиться с преимуществами зондов Bruker и узнать, как выбрать оборудование, чтобы оно максимально подходило для вашей области исследований. Кроме того, в онлайн-лекции специалисты компании расскажут об особенностях использования зондов при проведении атомно-силовой микроскопии.